[vsesdal]
Количество страниц учебной работы: 15,4
Содержание:
Содержание
Введение…………………………………………………………………….3
1. Интерференция, интерферометры в технике измерения концентрации растворов, давления газов, определении размеров и т. п. Установление эталона длины……………………………………………………………………..4
2. Оптические микроскопы, пределы увеличения. Поляризационные микроскопы……………………………………………………………………….8
Заключение………………………………………………………………..15
Список литературы……………………………………………………….16

Список литературы
1. Арцыбышев С.А. Физика – М.: Медгиз, 2012. – 511с.
2. Жданов Л.С. Жданов Г.Л. Физика для средних учебных заведений – М.:Наука, 2014. – 560с.
3. Ландсберг Г.С. Оптика – М.: Наука, 2012. – 928с.
4. Ландсберг Г.С. Элементарный учебник физики. – М.: Наука, 2013 -Т.3. – 656с.
5. Прохоров А.М. Большая советская энциклопедия. – М.: Советская
энциклопедия, 2012. – Т.18. – 632с.
Стоимость данной учебной работы: 585 руб.

 

    Форма заказа работы
    ================================

    Укажите Ваш e-mail (обязательно)! ПРОВЕРЯЙТЕ пожалуйста правильность написания своего адреса!

    Укажите № работы и вариант

    Соглашение * (обязательно) Федеральный закон ФЗ-152 от 07.02.2017 N 13-ФЗ
    Я ознакомился с Пользовательским соглашением и даю согласие на обработку своих персональных данных.

    Учебная работа № 186810. Контрольная Интерференция, интерферометры в технике измерения концентрации растворов, давления газов, определении размеров и т. п. Установление эталона длины.

    Выдержка из похожей работы

    …….

    Интерференция

    …..полосных светофильтров и др.
    Некоторые применения интерференции:
    Проверка качества обработки поверхностей.
    С помощью интерференции можно оценить качество обработки поверхности
    изделия с точностью до 1/10 длины волны, т.е. с точностью до 10-6 см. Для
    этого нужно создать тонкую клиновидную прослойку воздуха между поверхностью
    образца и очень гладкой эталонной пластиной. Тогда неровности поверхности
    размером до 10-6 см вызовут заметные искривления интерференционных полос,
    образующихся при отражении света от проверяемой поверхности и нижней грани
    эталонной пластины.
    Просветление оптики.
    Объективы современных фотоаппаратов и кинопроекторов, перископы подводных
    лодок и различные другие оптические устройства состоят из большого числа
    оптических стекол – линз, призм и др. Проходя через такие устройства, свет
    отражается от многих поверхностей. Число отражающих поверхностей в
    современных фотообъективах превышает 10, а в перископах подводных лодок
    доходит до 40. При падении света перпендикулярно поверхности доля
    отраженной от нее энергии составляет 5-9% от всей энергии. Поэтому сквозь
    прибор часто проходит всего 10-20% поступающего в него света. В результате
    этого освещенность изображения получается малой. Кроме того, ухудшается
    качество изображения. Часть светового пучка после многократного отражения
    от внутренних поверхностей все же проходит через оптический прибор, но
    рассеивается и уже не участвует в создании четкого изображения. На
    фотографических изображениях, например, по этой причине образуется “вуаль”.
    Для устранения этих неприятных последствий отражения света от поверхности
    оптических стекол надо уменьшить долю отражаемой энергии света. Даваемое
    прибором изображения делается при этом ярче, “просветляется”. Отсюда и
    происходит термин просветление оптики. Просветление оптики основано на
    интерференции. На поверхность оптического стекла, например линзы, наносят
    тонкую пленку с показателем преломления nп, меньшим показателя преломления
    стекла nс. Для простоты рассмотрим нормальное падение света на пленку.
    Разность хода световых волн 1 и 2 (рис. 0), отраженных от верхней и нижней
    поверхностей пленки, равна удвоенной толщине пленки 2h. Длина волны lп в
    пленке меньше длины волны l в вакууме в n раз: lп = l/nпДля того, чтобы волны 1 и 2 ослабляли друг друга, разность хода должна
    равняться половине длины волны в пленке: 2h = lп/2 = l/2nп (1)Если амплитуды обеих отраженных волн одинаковы или очень близки друг к
    другу, то гашение света будет полным. Чтобы добиться этого, подбирают
    соответственным образом показатель преломления пленки, так как
    интенсивность отраженного света определяется отношением коэффициентов
    преломления двух граничащих сред. На линзу при обычных условиях падает
    белый свет. Выражение (1) показывает, что требуемая толщина пленки зависит
    от длины волны. Поэтому осуществить гашение отраженных волн всех частот
    невозможно. Толщину пленки подбирают так, чтобы полное гашение при
    нормальном падении имело место для длин волн средней части спектра (зеленый
    цвет, lз » 5,5Ч10-5 см); она должна быть равна четверти длины волны в
    пленке: h = lз/4nпОтражение света крайних участков спектра – красного и фиолетового –
    ослабляется незначительно. Поэтому объектив с просветленной оптикой в
    отраженном свете имеет сиреневый оттенок. Сейчас даже простые дешевые
    фотоаппараты имеют просветленную оптику. Интерферометры – измерительные приборы, в которых используется интерференция волн. Принцип действия всех интерферометров одинаков, и различаются они лишь методами получения когерентных волн и тем, какая величина непосредственно измеряется. Пучок света с помощью того или иного устройства пространственно разделяется на два или большее число когерентных пучков, которые проходят различные оптические пути, а затем сводятся вместе. В месте схождения пучков наблюдается интерференционная картина, вид которой, т. е. форма и взаимное расположение интерференционных максимумов и минимумов, зависит от способа разделения пучка света на когерентные пучки, от числа интерферирующих пучков, р…